大力值, 對堅固性極高的要求 – 結構高度低,集成方便,費用低 – 使用環形力墊圈有很多原因。用途也多種多樣,從壓接和鉚接等數不清的工業力測量應用,到風力渦輪機或軌道螺紋連接的長期監測。
一般來說,力墊圈有以下多種要求:
- 低閾值,確保卓越的靈敏度,甚至可以測量很小的力
- 結構緊湊,堅固
- 尺寸與常用螺釘、螺栓和銷直徑相同
- 無漂移,例如螺釘和螺栓監控
- 安裝校準后重復性誤差低
即使使用最新的技術,一種物理原理也無法滿足所有的要求。基于這個原因,現在通常采用的力墊圈一般有應變和壓電兩種原理。
大力值, 對堅固性極高的要求 – 結構高度低,集成方便,費用低 – 使用環形力墊圈有很多原因。用途也多種多樣,從壓接和鉚接等數不清的工業力測量應用,到風力渦輪機或軌道螺紋連接的長期監測。
一般來說,力墊圈有以下多種要求:
即使使用最新的技術,一種物理原理也無法滿足所有的要求。基于這個原因,現在通常采用的力墊圈一般有應變和壓電兩種原理。
基于應變的力墊圈由一個環形彈性體構成,將應變片用粘合劑固定在該彈性體上。與應變傳感器情況相同,作用力使彈性體產生變形,引起應變,應變片能將其轉換為電阻的變化。應變片組成惠斯通電橋,在在施加電壓后,就會產生與施加力成比例的可測量電壓。
在設計應變力墊圈時,應變片需要實現盡可能大的角度覆蓋,使其整個表面具有均勻的靈敏度。HBM 最新 KMR+ 系列力墊圈,采用焊接焊封,適合長期在惡劣環境下使用,如戶外,鐵路或風力渦輪機等。應變技術的優點是傳感器自身是無漂移的。特別適合監測任務(如監測螺紋連接或電纜張力),因為傳感器無需調零或重置,適合長期測量。
壓電力墊圈由兩塊壓電材料晶體組成,通常是石英。電極(紅色)安裝在這些晶體之間。每個晶體的另一側連接到力墊圈的外殼(黃色和綠色)。
當施加力時,傳感器產生電荷(壓電效應),由一個特殊的同軸電荷電纜饋送到電荷放大器,在那里它被轉換成一個可測量的電壓信號,但晶體表面大小與靈敏度無關,這與應變傳感器形成了鮮明對比,其靈敏度取決于標稱(額定)力。
因此,壓電傳感器的靈敏度不取決于傳感器的尺寸,也不取決于標稱(額定)力。因此,可以用來測量非常小的力,并增加其他參數的自由度,例如高過載穩定性或幾何尺寸。還有其他優點:閾值更小,測量范圍非常廣泛。
此外,傳感器在整個負載應用具有相同的靈敏度。需要非常高的絕緣電阻,因此電氣連接必須符合嚴格的要求。但所有壓電傳感器都具有漂移,因此無法使用此技術執行長期監測任務。
電荷可以產生短路,將傳感器設置歸零。其優點是,即使作用力很大,也可以記錄非常小的力。如果進行了重置,則可以使用初始負載為數kN的壓電傳感器地測量10N 的力。
應變與壓電傳感器相輔相成。以下是一些測量任務的首選技術:
預期用途/要求 | 推薦的解決方案 |
測量范圍需大于10倍 | CFW 或 CLP 壓電傳感器 |
長期監控任務 | KMR+ |
鉚接、壓力機和類似設備的過程控制 | 兩種測量原理都可以使用 |
在極端條件、高濕度下使用 | KMR+ |
無預應力使用 | KMR+ |
要求極高的過載穩定性 | CFW 或 CLP 壓電傳感器 (選擇大量程) |
高初始載荷下小載荷測量 | CFW 或 CLP 壓電傳感器 |
高動態測量 | 兩種測量原理都可以使用 |
所有的力墊圈都具有極小的位移。這是一個優勢,因為力傳感器的剛度也可以通過將標稱(額定)力除以位移來計算:因此,小位移等于高剛度,這反過來意味著其具有極高固有頻率。由于傳感器的最大測量頻率取決于整個系統的固有頻率,小位移意味著傳感器適用于高動態測量。
同樣,小位移意味著傳感器必須承受其整個表面的均勻載荷,以防止個別區域過載。同樣適用于兩種類型的傳感器。因此,應將與傳感器接觸表面磨平,以確保它們均勻。還要求硬度為40 HRC。
KMR+用應變片覆蓋了一個很大的角域。它的特點是加載板能均勻地將力分布到力墊圈上,從而改善傳感器的性能。這大大降低了重復性誤差和彎矩靈敏度,同時對連接件的接觸點也提出了較低的要求。
對壓電力墊圈來說,預應力加載是非常重要的。通常用螺栓來完成。要求性能等級為10.9或12.9。預應力對于將壓電力墊圈的部件(即晶體、電極和外殼)相互壓接很重要:
如圖所示,壓電力墊圈的最大允許彎矩取決于荷載:最大允許彎矩不能超過預應力和待測力的總和的50%,。例如:您使用的是CFW/330KN,您希望測量的過程力大約為95 kN。因此,最佳預應力為70kn,因為70kn和95kn之和為165kn,最大允許彎矩為總和的一半。
如果力墊圈是用螺栓預加應力安裝的,則螺栓的預加應力作用在力墊圈上,并作用于要測量的力F,如下圖所示。
如果對結構施加力,會產生很小的變形。這會使螺栓發生輕微的應變消除,導致預應力下降。這會使得測量點比沒有預應力加載的墊圈更不靈敏。如果需要定量測量值,則必須校準力墊圈。當然,定性(比較)測量也可以在沒有校準的情況下進行。